Les prochaines constructions de table de microscope de la génération TM3000 sur le succès de son prédécesseur, le TM-1000, et des offres ont amélioré de manière significative l'exécution, y compris le rapport optique jusqu'à 30,000x et à meilleure résolution, dans une unité qui occupe 20% moins d'espace et a une conception économiseuse d'énergie. Le nouveau TM3000 est un microscope à balayage électronique ...
Le nouveau HT7700 le microscope électronique de transmission de 120 kilovolts est conçu pour la recherche et la recherche et développement biomédicales pour les matériaux pharmaceutiques et avancés et la nanotechnologie. Le HT7700 révolutionnaire est optimisé pour la formation image contrastée à de basses doses d'électron et est placé pour faciliter la vie beaucoup pour des microscopistes avec l'intégration ...
Le système de fraisage de l'ion IM4000 peut préparer des spécimens pour la formation image des PSEM et des analyses telles qu'EDX et EBS dans une multitude de différents champs et des applications telles que des matériaux, des semi-conducteurs, la recherche et le contrôle de qualité. Il est capable des deux fraisage ponctuel d'ion de surface en coupe et plate. Le fraisage en coupe fournit aux spécimens ...
The Dimension FastScan™ Atomic Force Microscope (AFM) delivers, for the first time, extreme imaging speed without loss of resolution, loss of force control, added complexity, or additional operating costs. Based upon the highly successful Dimension Icon® AFM architecture, the FastScan AFM is a tip-scanning system that provides measurements on both large and small size samples in air or fluids. Now, ...
The Innova atomic force microscope provides more performance and flexibility at a greater value than any other SPM. The proprietary closed-loop scan delivers noise-levels that approach those of high-end, open-loop systems and offers a wide range of functionality for physical, materials, and life sciences, from sub-micron levels up to 90 microns.
N8 ARGOS
N8 ARGOSAFM/SPM la manière simple
Le N8 ARGOS est un contrat et un stand fortement rigide pour le système de NANOS AFM/SPM. Équipé ultra d'une étape verticale de précision l'AFM est approché avec l'exactitude de nanomètre. Les algorithmes sophistiqués fournissent une approche sans heurt et douce de sonde. Le bout accidentel à l'échantillon entre en contact dedans non - les approches ...
Microscopie corrélative
“ ; Navette et Find” ; est une interface corrélative pour la lumière et les microscopes électroniques et fournit une manière franche de combiner les avantages de la photomicroscopie avec les fonctionnalités étendues des microscopes électroniques de balayage de bord d'attaque, par exemple spectroscopie aux rayons X dispersive d'énergie.
Les ...
Le microscope de sonde de balayage (SPM) a été développé pendant les années 80 et est maintenant un outil indispensable pour l'étude de haute résolution directe des surfaces et des forces de surface. Commençant par le microscope de perçage d'un tunnel de balayage en 1981, la technique a été élargie à la microscopie atomique de force comprenant les modes de contact, de non contact, et discrets de contact ...
Le JSPM-5410 est un microscope puissant et souple de sonde de balayage qui est également facile à utiliser. Le JSPM-5410 offre la commande de balayage à grande vitesse et sans effet négatif, le positionnement simple, la formation image de haute résolution, et l'observation stable d'échantillons heated/refroidis dans le vide poussé.
Le JSPM-5410 breveté, AFM de non contact, utilise une méthode ...
Le JSPM-5200 est une facilité d'utilisation de offre universelle et de haute résolution de SPM avec la mesure diverse et des environnements témoin. Le JSPM-5200 peut être employé dans divers environnements indigènes -- de l'air ambiant, en atmosphère contrôlée, liquide, ou du vide, avec l'échantillon de chauffage à 500° C (773K) ou refroidi à -143° C (130K). Le JSPM-5200 peut également exécuter un ...
MERLIN™ ;
Puissance analytique pour le monde de Secondaire-Nanomètre
- Analytics nano
- L'information totale
- Facilité d'utilisation
- Futur assuré
MERLIN™ ; - analyse et résolution dans un
MERLIN FE-SEM surmonte le conflit entre la résolution d'image et les possibilités analytiques. Le noyau de MERLIN est la colonne augmentée des GÉMEAUX II ...
AURIGA®
L'information au delà de la résolution
- Formation image unique
- Analytics avancé
- Traitement précis
- Futur assuré
Travaillant avec votre échantillon couvre plus que juste la formation image de la surface ? Voudriez-vous également savoir la composition chimique ou la morphologie de votre échantillon ? Êtes-vous des curiosités au sujet des caractéristiques ...
Série les PSEM d'EVO® mA et de LS
Conduit par des applications
La série les PSEM d'EVO® a évolué pour fournir à des utilisateurs en analyse et sciences de la vie de matériaux des microscopes conçus pour assortir leurs besoins. Les deux séries de microscopes partagent quelques dispositifs principaux.
Dispositifs principaux
- La principale géométrie de rayon X de classe ...
Aujourd'hui, avec le point culminant de plus de 20 ans d'expérience, le systeme optique de Bruker offre l'infrarouge du dernier cri et les microscopes de Raman. RamanScopeIII est basé sur une prochaine génération, la plate-forme « hybride » qui peut adapter à des longueurs d'onde multiples de l'excitation de Raman. Le nouveau système de RamanScopeIII peut être couplé au module entièrement numérique ...
Microscope dispersif de SENTERRA Raman
Le SENTERRA est un spectromètre de microscope de Raman de haute performance conçu
pour les applications analytiques les plus exigeantes et de recherches. Son innovation plus importante est certainement son calibrage continu interne car elle assure l'exactitude de wavenumber la plus élevée sans besoin de calibrages avec des normes externes. ...
The Panasonic UA3P profilometer series is designed to measure aspherical lenses & molds, semiconductor wafers, and any other precision component requiring nanometer level accuracy ranging up to 200mm x 200mm. Different machine models are available to meet your optical & high aspect ratio metrology needs.
The UA3P-300, UA3P-4 and UA3P-5 all offer users the accuracy of AFM technology ...
Profilomètre de Panasonic UA3P-L
L'UA3P-L nouvellement présenté mesure les surfaces verticales de mur des objets et la surface intérieure des trous de micron-niveau. Les applications exigeant la métrologie élevée d'allongement (MAL), comme des orifices d'injecteur de carburant, micro-ont classé des vitesses, et les modèles de dispositif de semi-conducteur peuvent tout tirer bénéfice de ce ...
Navitar est un principal fournisseur des outils fluorescents micro et macro de formation image conçus pour la détection et l'observation de microscopie de fluorescence. Navitar’ ; les outils optiques complets de s fournissent les détails fins des organes, tissus et vivent des cellules avec l'éclat, la résolution et la précision sans précédent.
Nos systèmes de formation image de ...
Microscope de DXR Raman
Le microscope scientifique thermo de DXR Raman fournit à la microscopie de Raman de point et de pousse la sensibilité exceptionnelle et à la résolution spatiale pour des applications fonctionnantes.
Le microscope scientifique thermo de DXR Raman redéfinit complètement le microscope de Raman de sorte qu'il satisfasse les demandes des laboratoires occupés. Sans sacrifier ...
X-RayMicroanalysis : Sortie élevée, exactitude impeccable et aucuns compromis
Comportant les systèmes à haute résolution de détecteurs de rayon X d'EDS et de microanalyse de rayon X a conçu pour la haut-sortie, facilité d'utilisation, et les réponses complètes, aussi bien que des systèmes de WDS et d'EBSD, des offres scientifiques thermo de Fisher accomplissent des solutions pour l'analyse ...
Positionneur/module de balayage à haute précision pour des objectifs de microscope
P-725.2CL avec l'option P-721.12Q de QuickLock pour W0.8 X 1/36 " fils et objectif (adapteur et objectif de QuickLock non inclus)
Chaînes de voyage au µm 460
Une réponse sensiblement plus rapide et une vie plus élevée que les Z-Étapes motorisées
Balayages et objectifs de positions avec ...
Accessible, Recherche-Catégorie AFM avec la manipulation flexible d'échantillon
Une prolongation économique du XE-100, le XE-70 est solution d'AFM de systèmes de parc nouvelle' pour les clients conscients de budget. Ayant une conception mécanique compacte, le XE-70 continue la technologie innovatrice des XE-séries qui des ensembles il indépendamment de l'AFM conventionnel. Le XE-70 partage ...
Data accuracy is of paramount importance to nanotechnology researchers as the credibility of their research depends upon accurate results. The NX10, the world’s most accurate AFM, is the flagship AFM of Park Systems’ new product line. The NX10 brings unparalleled imaging accuracy, scan speeds, and tip life to the next generation of researchers, all at an affordable price. The NX10 is the world’s premium ...
Le XE-200 est un AFM de la capacité accrue qui soutient 200 millimètres de recherche de gaufrette. En plus du balayage précis l'exécution a fourni par véritable mode de non contact, les utilisateurs des offres XE-200 une étape DE X/Y codée qui voyage au-dessus des 200 millimètres entiers X 200 millimètres de secteur d'échantillon, une gamme DE X/Y agrandie de balayage de 200 μ ; m X 200 μ ...
Avec l'application de reconstruction de la rugosité 3D, le Phenom peut produire des images et des mesures tridimensionnelles de rugosité de submicrometer.
Cette demande entièrement automatisée de microscope à balayage électronique de Phenom aidera à communiquer des résultats de formation image et extraira et visualisera des données normalement caché dans un échantillon.
3D
la ...
Une meilleure, plus rapide analyse de fibre
Maintenant, observation directe et mesure de micro et
les fibres nanoes est plus rapide, meilleure et plus facilement que jamais avant, avec
l'application améliorée de Fibermetric.
En combination avec le Phenom™ ; Le pro microscope à balayage électronique G2 de bureau, l'application de Fibermetric te permet de produire ...
Le Phenom G2 pur est un outil idéal pour faire la transition à partir de travailler avec un photomicroscope à actionner un microscope électronique. Le Phenom G2 pur est équipé des composants de base pour les besoins de formation image de réunion.
Le Phenom G2 pur fournit les images de haute qualité tout en en utilisant les dispositifs de base, et offre le temps du chargement le plus ...
Le XploRA est un nouveau concept en microscopie de Raman, apportant à Raman l'identification chimique directement à votre microscope. Le XploRA peut être couplé aux microscopes droits et inversés, permettant l'analyse de tous les types témoin, s'étendant des semi-conducteurs et des nano-matériels, à travers aux cellules et aux tissus biologiques.
Le système fournit l'exécution établie des ...
Les systèmes de LabRAM heure fournissent la résolution spectroscopique élevée et des possibilités uniques de gamme de longueurs d'onde qui offrent la grande flexibilité et la haute performance. Ils sont employés couramment pour l'analyse standard de Raman, le photoluminescence (PL), le Raman augmenté par bout dispersant (TERS) et d'autres méthodes hybrides.
Le XGT-7000 représente une génération complètement nouvelle de microscope de XRF, et mène la manière à une nouvelle ère de la science. Il offre une fusion sans couture les fonctions entre l'observation optique et analyse élémentaire, révolutionnant le monde de la microanalyse et de l'établissement micro-XRF comme outil courant pour la recherche et le scientifique analytique.
Les dispositifs ...
