Catégorie

Spectromètres d'électrons : AES, XPS, EELS...

 37 Produits industriels
 
 
Sociétés 1 à 9 sur 9
Jeol
Microsonde électronique (EPMA)  JXA-8230 Jeol

The JXA-8230, the fifth generation of SuperProbes, is a high resolution, highly stable WD/ED Combined Electron Probe Microanalyzer (EPMA) with a new PC-based operating environment for easy data acquisition and analysis.

The combination of up to 5 wavelength dispersive X-ray spectrometers (WDS) and a newly developed energy dispersive X-ray spectrometer (EDS) analyzer featuring spectral imaging ...

Microsonde électronique (EPMA)  JXA-8530F Jeol

A PC Controlled, WD/ED Combined System Opens Doors to New Ultra Micro Analysis

JEOL revolutionized surface analysis with an EPMA featuring a field emission (FE) electron gun, and now is proud to present a new upgraded FE-EPMA. The JXA-8530F operates on PC Windows for data acquisition and analysis while maintaining the powerful hardware of the JXA-8500F including the FE electron gun, EOS, ...

Microsonde électronique (EPMA)  JIB-4600F Jeol

Highly stable probe current and aperture control lens facilitate high resolution image acquisition. The milling process is simultaneously viewed and analyzed in SEM imaging, effective for inner structure analysis and TEM thin film sample preparation.

* Incorporates a high resolution FE-SEM for precision cross sectioning.
* High resolution SEM imaging for real time monitoring of ...

Thermo Scientific - Scientific Instruments
Spectromètre Auger (AES) Thermo Scientific - Scientific Instruments
Masquer la traduction

MICROLAB 350 - Spectromètre d'électron Auger

MICROLAB 350 est un spectromètre à rendement élevé et balayant d'électron Auger (AES) avec la sensibilité élevée et la résolution de haute énergie. La résolution <7 nanomètre des PSEM et le balayage percent tracer (SAM) la résolution <12 nanomètre.


Détail de produit

Spectromètre à rendement élevé d'électron Auger ...

Spectromètre de photoélectrons rayons X (XPS) Thermo Scientific - Scientific Instruments
Masquer la traduction

Sonde de thêta - spectromètre de la haute performance ARXPS



La sonde thermo de thêta combine la technologie avancée de monochromateur et d'objectif et de détecteur pour fournir l'analyse rapide et précise. Avec les possibilités révolutionnaires d'ARXPS pour fournir des données angulaires simultanément sans incliner l'échantillon




Détail de produit ...

OMICRON
Analyseur de spectre électronique OMICRON
Masquer la traduction

Les cartels de CMA 100 une conception compacte et une haute performance. Il monte bride standard des CF du nanowatt 100 (6 à une " OD), et comporte un mécanisme de rétraction intégral unique pour facile d'accès à l'échantillon. L'analogue aussi bien que l'impulsion comptant la détection de mode est possible, fournissant aux signaux optima même les échantillons sensibles.

Spectromètre Auger (AES) OMICRON
Masquer la traduction


- Conception consacrée d'objectif pour la combinaison avec la colonne de Gémeaux d'UHV
- Résolution d'énergie 0.01% 2%
- Détecteur de canal de MCD 7


Spectromètre hémisphérique d'électron pour la spectroscopie des électrons Auger (AES), et les applications de microscopie de foreuse (SAM) de balayage. L'instrument est conçu pour l'usage ainsi que la colonne de haute ...

Spectromètre à diffraction d'électrons à faible énergie (LEED) OMICRON
Masquer la traduction

Rayonner l'énergie < de l'eV 5 à 3.5 kev
LaB6 ou filament thoriated de W
Excellente exécution d'AES

Le systeme optique de SPECTALEED est un instrument de précision fournissant de > la largeur de transfert 250 Å (à eV 100), et en particulier les modèles lumineux de LEED. Le nouveau NG compact LEED d'alimentation d'énergie combine l'opération manuelle de LEED et la spectroscopie ...

CAMECA
Microsonde électronique (EPMA)  SXFive CAMECA
Masquer la traduction

SX 100

Analyseur micro de sonde électronique pour des matériaux et Geosciences

Combinant l'optique électronique avancée, conception du dernier cri de spectromètre et logiciel consacré, le CAMECA SXFive exécute la microanalyse chimique qualitative et quantitative de grande précision en métallurgie de géochimie, de minéralogie, de géochronologie, physique et nucléaire, sciences des ...

Microsonde électronique (EPMA)  Shielded SX CAMECA
Masquer la traduction

Sonde électronique protégée MicroAnalyzer pour les échantillons radioactifs

Le SX protégé a été spécifiquement développé pour manipuler et analyser les échantillons radioactifs (par exemple carburants nucléaires) émettant des rayonnements gamma jusqu'à 3 curies à 0.75MeV. Basé sur l'architecture de SXFive et de SXFiveFE, le Shieldede SX est encore équipé des spectromètres protégés de WDS ...

Physical Electronics Inc.
Spectromètre Auger (AES)  PHI 700Xi Physical Electronics Inc.
Masquer la traduction

Foreuse Nanoprobe du PHI 700
Vue d'ensemble

La foreuse de balayage Nanoprobe du PHI 700 fournit la haute analyse spectrale de la foreuse de performance (AES), formation image de foreuse, et pulvérise le profilage de profondeur des matériaux complexes comprenant : nanomaterials, catalyseurs, métaux, et appareils électroniques.

La source d'électron d'émission de champ 700's fournit ...

Spectromètre de photoélectrons rayons X (XPS)  PHI Quantera II Physical Electronics Inc.
Masquer la traduction

Vue d'ensemble

Le Quantera, micro-sonde de rayon X de balayage de la deuxième génération du PHI fournit la sensibilité et l'usine nécessaire pour s'appliquer l'analyse extérieure de XPS à une plus large gamme de courant et la future analyse de développement de produit et d'échec a besoin. La spectroscopie de micro-secteur de haute performance, profondeur de XPS profilant, a automatisé l'analyse ...

Spectromètre de photoélectrons rayons X (XPS)  PHI VersaProbe Physical Electronics Inc.
Masquer la traduction

Le PHI 5000 VersaProbe est un instrument d'analyse de surface de multi-technique basé sur la technologie réussie de micro-sonde de rayon X du balayage du PHI fortement -. Cette technologie fournit la spectroscopie de micro-secteur de la haute performance XPS, formation image chimique, et la formation image d'électron secondaire avec une trame a balayé le faisceau de rayons X de diamètre de 10 µm.

La ...

LK Technologies
Analyseur de spectre électronique   MINICMA™ LK Technologies
Masquer la traduction

Des technologies du LK est heureuses pour présenter la dernière addition à sa gamme des analyseurs d'énergie d'électrons. Le CMA2000 est un analyseur souple et à passe double d'énergie qui se conforme aux conditions serrées de l'espace (diam. 1.35 po. (35mm)) et offres la capacité de rétracter 4.0 po. (100 millimètres) au moyen d'un auget de mouvement linéaire.

Dispositifs d'exécution

- ...

Canon à électrons pour applications d'analyse superficielle  Models EG3000 LK Technologies
Masquer la traduction

Les technologies du LK modèlent PAR EXEMPLE 3000 que le canon électronique avec des circuits de commande assortis convient à une série d'applications extérieures d'analyse telles que la spectroscopie des électrons Auger, expériences de diffusion électronique et de diffraction, et neutralisation de charge. L'énergie de faisceau d'électrons peut être sans interruption variée de 0.1-3 kev. Le courant ...

Spectromètre Auger (AES) LK Technologies
Masquer la traduction

Système combinant ELS3000 avec la chambre de croissance de diamant de CVD et toute autre analyse comprenant LEED/Auger, QMS.

RBD Instruments Inc
Canon à électrons pour applications d'analyse superficielle  20 µA | NTI 1401 RBD Instruments Inc
Masquer la traduction

Le pistolet 1401 d'ion du modèle NTI est idéal pour l'usage dans les expériences extérieures de chimie telles que la préparation et la profondeur d'échantillon profilant avec la foreuse et le XPS. Il peut être employé avec la plupart des gaz inertes.

Avec un courant de faisceau du µA 20 dans une tache de diamètre de 0.4mm à une distance de fonctionnement de 25 millimètres, le pistolet peut ...

Canon à électrons pour applications d'analyse superficielle  2 - 20 µA | NTI 1407 RBD Instruments Inc
Masquer la traduction

Le pistolet 1407 d'ion du modèle NTI comporte l'exécution de Duoplasmatron dans un pistolet d'ion d'ionisation d'impact d'électron. Au moyen d'ouvertures variables dans la colonne de systeme optique, un éventail de courants de faisceau et des tailles de tache peuvent être obtenus. À une énergie de faisceau de 5 kev, rayonner le courant peut être ajusté de 2 uA dans une tache de diamètre de 20 UMs ...

Canon à électrons pour applications d'analyse superficielle  2 kV | IG2 RBD Instruments Inc
Masquer la traduction

PHI compatible : La source d'ions de RBD 04-165 est interchangeable avec les pistolets d'ion du PHI 04-161 et 04-162. La commande de source d'ions de RBD 32-165 est interchangeable avec la commande du PHI 20-045. En conséquence, le model 04-165 de RBD fonctionne avec le PHI 20-045, et les pistolets d'ion du PHI 04-161 et 04-162 fonctionnent avec le model 32-165 de RBD.

Théorie : Le 04-165 ...

VG Scienta
Analyseur de spectre électronique VG Scienta
Masquer la traduction

Description générale :

Avec des configurations en tant qu'une fente d'entrée de 0.1 millimètre et 1 eV passer à énergie les réclamations du spectromètre R4000WAL-0.1 la meilleure résolution d'énergie concernant le marché. Cet analyseur grand-angulaire d'acceptation est entièrement équipé pour des études de XPS, d'UPS, et d'ARPES des tables d'objectif pour la vue d'ensemble et les modes de ...

Spectromètre par photoémission en résolution angulaire (ARPES)  ARTOF 10k VG Scienta
Masquer la traduction

il ARTOF 10k est un nouvel analyseur ultra de haute résolution d'énergie d'électrons pour la 2D cartographie rapide de bande. La conception d'instrument combine le tube de vol d'un moment de spectromètre de vol avec l'optique électronique de VG Scienta et devient un spectromètre pendant la période Resolved angulaire des mesures (ARTOF) de vol. Elle exige une source pulsée de photon avec un taux maximum ...

OCI Vacuum Microengineering
Canon à électrons pour applications d'analyse superficielle  G10 Series OCI Vacuum Microengineering
Masquer la traduction

Dispositifs :

Conception miniature d'objectif
Diamètre variable de faisceau
Énergie variable de faisceau
Bas taux de dégazage
Configuration flexible de support

Contrôleur pour spectromètre à diffraction d'électrons à faible énergie (LEED) OCI Vacuum Microengineering
Masquer la traduction

Modèle LPS075-D

Contrôleur compact pour l'application de LEED compatible
avec BDL800/600/450 et la plupart des systeme optique commercial de LEED

Spectromètre Auger (AES)  50 pA | Models BDL800IR-MCP OCI Vacuum Microengineering
Masquer la traduction

AES AVEC LA PUISSANCE DE GAIN DES GALETTES DE MICROCANAUX

Modèles BDL800IR-MCP et BDL600IR-MCP

Dispositifs :

Sensibilité élevée d'image au courant primaire de faisceau - 50pA
Choisir/conjuguer des galettes de microcanaux de 75 millimètres
Canon électronique miniature avec la double focalisation
AES au µA du courant 50 de faisceau - 10µA
Mouvement intégral ...

recherche-cat www di Fr 2012-02-06-11